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    芯业测控携新一代高性能ATE亮相第七届集微半导体峰会
    发布时间:2023-06-30 点击:622

    近期,第七届集微半导体峰会在福建厦门举行,芯业测控携新一代高性能ATE参加了此次峰会活动!



    新一代的测试机产品“XT2200数字测试机”,拥有512个数字IO通道,支持512个PPMU,64路DPS,向量运行速度达200MHZ。该系列测试机是芯业测控自主研发的功能丰富、性能优越的新一代SOC通用测试机,能够很好地满足国内外客户开发、调试IC测试方案以及多引脚SOC芯片的CP/FT量产需求。全新开发的高集成度数字板卡,单板通道数为64个,信号完整性好、噪声低,通道的一致性、准确度、精准度均优于同类型的产品。通过软硬件协同设计和调优,有效地提升测试效率,和同类型产品对比,可以多至减少30%左右的测试时间,极大降低了客户的测试成本。



    参展期间,芯业测控向到场观众分享了公司产品在SOC、MCU等芯片的一些测试方法和XT2200产品优势。多家设计公司的代表在现场交流后,表达了对产品的认可以及后续合作的期望!



    6月29至7月1日,芯业测控将在上海新国际博览中心举办的Semicon China2023展会上(E3馆E3629)继续展出高性能通用数字测试机 XT2200


    来源:珠海芯业测控有限公司

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